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PHI nanoTOF3+特征先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區分析能力,更加出色的分析精度飛行時間二次離子質譜儀最新一代 TRIFT 質量分析器,更好的質量分辨率 適用于絕緣材料的無人值守自動化多樣品分析 獨特的離子束技術 平行成像 MS/MS 功能,助力有機大分子結構分析 多功能選配附件
產品型號:PHI nano TOF 3+
廠商性質:經銷商
更新時間:2026-02-09
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主離子束激發的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛 出,特別是對于有高度差異和形貌不規則的樣品,即使相同 的二次離子在分析器中會存在飛行時間上的差異,因此導致 質量分辨率變差,并對譜峰形狀和背景產生影響。 TRIFT質量分析器可以同時對二次離子發射角度和能量進行 校正, 保證相同二次離子的飛行時間一致, 所以TRIFT兼顧 了高質量分辨率和高檢測靈敏度優勢,而且對于不平整樣品 的成像可以減少陰影效應。
實現高精度分析的一次離子槍
先進的離子束技術實現更高質量分辨
PHI nanoTOF3+ 能夠提供高質量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分析:在高質量分辨模式下,其空間分辨率優于500nm ;在高空間分辨模式下,其空間分辨模式優于50 nm。通過結合高強度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質量分析器,可以實現低噪聲、高靈敏度和高質量分辨率的測量;在這兩種模式下,只需幾分鐘的測試時間,均可完成采譜分析。